由一個或多個無線充發(fā)射線圈組合而成的電感器、變壓器、馬達(dá)等繞線元件，一般需求經(jīng)過下列路徑來完整地評價該線繞元件的質(zhì)量狀況：
1、無線充發(fā)射線圈之繞線電阻DCR(銅阻)，繞線感量(L)圈數(shù)N、圈數(shù)份額(Np/Ns)，線圈間容量(Cp)，鐵芯狀況(Q，ACR，LK)等，歸于低壓參數(shù)測驗。上述項目運(yùn)用自動變壓測驗體系，LCR數(shù)字電橋、圈數(shù)測驗儀、直流低電阻測驗儀等完結(jié)。
2、不同線圈間或線圈對鐵芯及外殼等的耐壓和絕緣程度，運(yùn)用耐壓測驗儀和絕緣電阻測驗儀。
3、無線充發(fā)射線圈本身的的絕緣程度，運(yùn)用脈沖式線圈測驗儀(匝間絕緣測驗儀)。
一般出產(chǎn)過程中查驗合格的元件，運(yùn)用于電氣電子商品中，即便短期功用正常，但長期運(yùn)用也也許因線圈本身的絕緣欠安而發(fā)生潛在的不良要素，而影響商品的之壽數(shù)和穩(wěn)定性。絕緣疑問致使商品不良的體現(xiàn)：耐久性差，壽數(shù)短;抗噪聲才能欠安;高溫下穩(wěn)定性欠好。多見形成線圈絕緣不良的因素：漆包線，絕緣膠帶或骨架絕緣不良;初始規(guī)劃的出線方法或加工技術(shù)不良;引腳間未留安全間隔或焊錫后的污染物的存在。
無線充發(fā)射線圈工序完畢，磁性材料加入前進(jìn)行脈沖測驗，可發(fā)現(xiàn)如下不良狀況：線圈本身絕緣不良( 波形前段衰減及放電景象);繞線圈數(shù)或接線顯著過錯前段(Lx，前段諧振周期改變);繞線方法過錯(并聯(lián)電容Cx改變，后段諧振周期)。
